書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1000000789410 |
書誌種別 |
図書 |
著者名 |
平田敏之/著
|
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細沼祐介/著 |
出版者 |
技術評論社
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出版年月 |
2019.7 |
ページ数 |
454p |
大きさ |
21cm |
ISBN |
978-4-297-10629-4 |
分類記号 |
694.6
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書名 |
iOSアプリ開発自動テストの教科書 |
書名ヨミ |
アイオーエス アプリ カイハツ ジドウ テスト ノ キョウカショ |
副書名 |
XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで |
内容紹介 |
iOSアプリ開発における自動テストに焦点をあてた一冊。自動テストについての考え方から、XCTestを利用した単体テストやUIテストの作成方法、XcodeやLLDBなどを活用したデバッグ手法までを解説する。 |
著者紹介 |
DeNAのSWETグループ所属。iOSやCI/CDに関する領域を主に担当。 |
件名1 |
モバイルアプリ
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件名2 |
ソフトウェア工学
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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 | 資料番号 | 請求記号 | 配架場所 | 帯出区分 | 状態 |
貸出 |
1 |
県立図 | 009864935 | 696/187/ | 一般開架 | 帯出可 | 在庫 | ○ |
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